關鍵詞：科技期刊；科技論文；X射線繞射譜圖；繞射強度；繞射角；標註；標目；量符號
X射線繞射（X-ray diffraction，XRD）分析常用於對晶體的物相分析、晶體結構與點陣常數的精確測定、宏觀殘餘應力和微觀應力的測定、晶粒尺寸的測定以及多晶織構測量和單晶定向等。由於具有采樣少、對樣品的非破壞性、對結構和缺陷的靈敏性、快捷、測量精度高、能得到有關晶體完整性的大量信息等優點，已廣泛應用於物理學、材料學、地質學、礦學等領域[1]。X射線繞射儀配有自動化和智能化的繞射圖處理分析軟件的計算機系統，可直接輸出XRD譜圖，但因各儀器所採用的軟件不盡相同，因此其XRD譜圖（繞射強度與入射角的關係曲線）的座標標註的量符號和單位均是不正確或不規範的，而論文作者通常只關注譜圖中的數值，忽略其座標的標目與標值的規範性，而編輯或由於沒有專業知識或疏忽，譜圖分析中常出現譜圖座標標註不規範的現象。筆者查閲了中國電子科技集團公司第十三研究所圖書館館藏的近兩年國內外出版的幾十種學術期刊，並從中國知網上下載了涉及XRD譜圖的文章近百篇，對XRD譜圖中存在的問題進行了歸納，並用文獻中出現的幾類錯誤XRD譜圖實例進行了闡述，以期引起編輯同仁的重視，主動擴寬專業知識的'學習和技術交流，提高科技期刊編輯出版質量。
一、XRD譜圖標目中的量符號和單位
二、來稿及文獻中XRD譜圖存在的問題
隨機抽取筆者所在單位的圖書館內的國內外核心學術期刊，並從中國知網上下載了近期出版的涉及XRD譜圖的文章近百篇，XRD譜圖的橫座標標目基本都是規範標註，個別不規範，縱座標問題比較多，主要表現為：標目中量符號使用不規範、單位標註不當、標目與標值不對應等。筆者將近年編輯部來稿中和統計的文獻中存在的XRD譜圖錯誤進行了歸納總結，主要問題如下。
圖3（a）在標註單位時將“cps”視為繞射強度單位，不正確，應改為“s-1”；圖3（b）繞射強度的單位用“counts”（計數）表示，也不規範，應改為“s-1”。圖3（c）相對繞射強度的量綱為1，單位為1，故將“cps”視為相對繞射強度單位，不正確。此外圖3（c）的橫座標標註也不規範，正確的標註應是在原來的基礎上將“繞射角”文字刪除即可。
3.概念不清，標註不嚴謹。圖4中“強度”和圖2（d）的“cps”既不是量符號也不是單位，屬於概念不清，其標目應為“I/s-1”。圖3（c）量符號用“相對強度”表示，而單位卻用“cps”，量名稱（符號）與單位不對應，屬於概念不清。圖4（b）標目用中英文同時表達，不規範，其正確的標目為“I/s-1”。
三、結語
隨着各種分析、測量儀器的自動化和智能化程度的不斷提高，各種測量結果可直接由分析儀器輸出得到，若作者對得到的結果疏於檢查、缺乏對測試儀器的基本原理及相關軟件分析的深入瞭解，而編輯有可能因專業背景不夠，且缺乏和作者的有效溝通，使得稿件中譜圖座標的標註存在不規範、不正確等問題。科技期刊的編輯要提高自主學習的積極性，擴寬專業知識，以提高科技期刊編輯出版質量。
參考文獻：
[2]劉粵惠，劉平安.X射線繞射分析原理與應用[M].北京：化學工業出版社，2003.
[3]新聞出版總署科技發展司，新聞出版總署圖書出版管理司，中國標準出版社.作者編輯常用標準及規範（第二版）[M].北京：中國標準出版社，2003：286. [4]信紹廣，宋忠孝，楊玉學.偏壓對Zr-Nb-N擴散阻擋層成分與結構的影響[J].稀有金屬與硬質合金，2012，（6）：40-43.
[5]陳浩元，鄭進保，李興昌.科技書刊標準化18講[M].北京：北京師範大學出版社，1998.
[7]MATSTUNAMI N，KAKIUCHIDA H，STATAKA M，et al. XRD Characterization of AlN Thin Films Prepared by Reactive RF-Sputter Deposition[J]nces in Materials Physics and Chemistry，2013，（3）：101-107.
[9]塔娜，史志銘，王曉歡，等.鈰摻雜二氧化鈦HRTEM和XRD分析[J].熱加工工藝，2014，（18）：49-51.
責任編輯、校對：艾 嵐
Key words： science and technology journals， article of science and technology， X-ray diffraction （XRD） spectrum， diffraction intensity， diffraction angle， diagram； heading， quantity symbol
文萃咖
